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观察了经300℃退火并分别快冷和慢冷的铝箔表面的电化学腐蚀结构.利用二次离子质谱仪检测了铝箔表面区域Fe、Si、Cu、Mg等微量元素的分布.结果显示:Mg在铝箔外表面的富集高于铝箔内部4个数量级,Fe、Si的富集程度约高2个数量级,而Cu则不足1个数量级.退火后慢速冷却会造成富集于表面的微量元素偏聚于晶界和位错周围,从而会加重腐蚀结构的不均匀性并降低铝箔的比电容.