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本文介绍利用ATR方法决定在金属块料衬底上淀附介质膜层的厚度及介电常数,用Otto结构测量样品的ATR谱,并利用计算机和理论值进行拟合运算,从而获得较好的结果。
金属块料衬底上淀附介质层的光学性质研究
【摘 要】
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本文介绍利用ATR方法决定在金属块料衬底上淀附介质膜层的厚度及介电常数,用Otto结构测量样品的ATR谱,并利用计算机和理论值进行拟合运算,从而获得较好的结果。
【机 构】
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复旦大学物理系
【出 处】
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中国激光
【发表日期】
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1987年14期
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