基于复用的SOC测试集成和IEEE P1500标准

来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户：linfenrir

【摘要】

：

以复用核测试为目标的测试策略是解决SOC测试问题的基础.IEEE P1500标准是国际上正在制订的嵌入式核测试标准,该标准旨在简化核测试信息的复用,提高SOC级测试集成的效率.文章

【作者】

：

吴超王红杨士元

【机构】

：

清华大学

【出处】

：

微电子学

【发表日期】

：

2005年3期

【关键词】

：

P1500 片上系统测试复用测试集成 P1500 SOC Test reuse Test integration

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以复用核测试为目标的测试策略是解决SOC测试问题的基础.IEEE P1500标准是国际上正在制订的嵌入式核测试标准,该标准旨在简化核测试信息的复用,提高SOC级测试集成的效率.文章介绍了截至目前为止P1500标准的制订情况,包括嵌入式核测试的体系结构、P1500的标准化目标,以及P1500的两级服从认证等.

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