RTD/HEMT单片集成中RTD直流参数与材料结构的关系

来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:aaa939639017
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为了研究器件参数与材料结构的关系,设计了三种不同的GaAs基RTD材料结构。通过完全相同的器件制造工艺,研制出三种RTD器件,并测量了它们的9个直流参数。对测量结果进行了对比和分析。最后针对RTD与HEMT集成时,如何处理RTD与HEMT间的电流匹配问题提出了建议。
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