论文部分内容阅读
介绍了交流阻抗谱法作为无损检测方法在热障涂层失效分析中的应用.通过对热循环、静态氧化过程中热障涂层体系的阻抗谱分析,利用交流阻抗谱对热障涂层进行拟合,得到了服役过程中DM以及TGO电阻R拟合的结果与氧化时间呈抛物线关系;并根据阻抗的变化确定了粘结层的氧化过程中氧化物成分从Al2O3变化到混合氧化物的过程;对陶瓷层电阻的拟合结果表明,陶瓷层在热循环250～350次之间的电阻变化与陶瓷层内微观结构以及应力的变化有关.