采用SACVD改善器件电学性能

来源 :集成电路应用 | 被引量 : 0次 | 上传用户:LISA19861011
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采用臭氧,正硅酸乙醋(O3/TEOS)基前驱物,通过次大气压化学气相沉积(SACVD)在深宽比高于8:1的STI和深宽比高于6:1的PMD应用中展现了优异的填充性能,并提高了器件的驱动电流,改善了PN结漏电。此外,在器件沟道区施加局部应力的方法也得到了证实。
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