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针对综合诊断恩想对电子装备测试资源分配的新要求，在测试点优化的基础上，建立了装备BITE与ATE优化分配的模型。该模型以测试代价最小为优化目标，以故障检测率、故障隔离率及虚警率为约束条件并通过LINGO求解。结果表明，该方法在满足测试性指标的同时降低了测试代价，对装备分层次设计和诊断、提高保障效率、减少寿命周期费用，具有重要意义。