可测试性设计展望

来源 :航空计算技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:shaonvshashou
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
本文对几种可行的可测试性设计技术进行了分析,并对可测试性设计的支持环境进行了简要描述。据出了可测试性设计是新一代电子产品的特点之一,它必将取代传统的设计方法,从根本上提高电子产品的可维修性的论点。 This article analyzes several possible testable design techniques and briefly describes the supporting environment for testability design. According to the testability design is one of the characteristics of a new generation of electronic products, it will certainly replace the traditional design methods, fundamentally improve the maintainability of electronic products argument.
其他文献