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电迁移失效是影响大规模电路可靠性的一个重要因素，通过电迁移的可靠性实验可以评估它的寿命。本文介绍了三种不同的评估方法，比较了它们的优缺点和近似条件，并用实例比较了相应的评估结果，使读者在评估电路电迁移寿命或进行电迁移实验时对三种方法有一个正确的选择。
几种电迁移（Electro migration）寿命评估方法的探讨
【摘 要】
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电迁移失效是影响大规模电路可靠性的一个重要因素，通过电迁移的可靠性实验可以评估它的寿命。本文介绍了三种不同的评估方法，比较了它们的优缺点和近似条件，并用实例比较了相应
【机 构】
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上海贝岭股份有限公司
【出 处】
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集成电路应用
【发表日期】
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2003年11期
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