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金属铑粉在汽车催化剂、气体传感器、生物医药、化工等领域有着非常广泛的应用,其纯度会直接影响产品的性能,因此准确测定铑粉中的杂质含量进而计算得出铑粉纯度数据至关重要.目前常用的铑粉杂质检测方法有电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)和辉光放电质谱法(GD-MS),为比较二者的实际应用效果,通过六西格玛统计方法对两种检测方法得到的数据进行对比,GDMS测出的Ir、Ru、Si含量偏高,Al含量偏低.通过对灵敏度因子进行校正,GDMS的检测结果有明显改善,与ICP-AES测出的结果无明显差异.