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NIM-IC型半导体硅单晶电阻率标准样片与NBS的SRM型标准样片的比较实验

来源 :计量学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：aajilin

【作 者】

：

李达汉  袁隐  梁文烈  姜云翔 

【出 处】

：

计量学报

【发表日期】

：

1990年10期

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