基于神经网络的模拟IC测试分类研究

来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:cxz2004
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提出了运用神经网络对模拟IC进行芯片合格分类和故障检测的方法.通过BP型神经网络,运用误差反向传播算法,对CMOS运算放大器输入脉冲测试信号,以正常和故障芯片供电电流的时域响应和频域响应作为样本反复训练网络.检测IC故障实验和仿真结果都表明:BP型神经网络可以用来有效、方便地测试模拟IC.
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