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在宽范围偏置条件下，测量了光电耦合器件的g—r(产生-复合)噪声．实验结果表明，随着偏置电流的增加，g-r噪声逐渐向高频移动，其噪声幅值呈现先增加后减小的变化规律．通过测量前级噪声和后级噪声，发现光电耦合器件g—r噪声来源于后级的光敏三极管．基于载流子数涨落机制，建立了一个光电耦合器件g—r噪声的定量分析模型．实验结果和本文模型符合良好．