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本文首先分析了集成电路主要内容，并对集成电路失效无损分析现状进行全面阐述，集成电路缺陷分析是可靠性分析的重要手段，目前分析技术无法满足集成电路无损分析实际需求，这就需要相关人员改变传统的思路，加大对新方法的研究，从而找到合适的解决办法。
集成电路无损缺陷分析方法探讨
【摘 要】
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本文首先分析了集成电路主要内容，并对集成电路失效无损分析现状进行全面阐述，集成电路缺陷分析是可靠性分析的重要手段，目前分析技术无法满足集成电路无损分析实际需求，这就需要
【机 构】
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邵阳学院国际学院,湖南邵阳,422000邵阳学院信息工程学院,湖南邵阳,422000;
【出 处】
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卷宗
【发表日期】
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2018年10期
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