半导体测试GPIB接口的联合调试系统

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复杂的半导体自动测试系统如果出现GPIB接口问题将影响测试生产的效率,本文开发的半导体自动测试GPIB接口的联合调试系统,可以分别与测试系统和测试机进行接口调试,以帮助工程师解决在实际测试生产中半导体自动测试系统的GPIB接口问题.
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