晶体硅光伏组件DH测试研究

来源 :中小企业管理与科技 | 被引量 : 0次 | 上传用户:woyingla
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本文依照IEC61215的测试标准,进行DH测试及DH加严测试来评定组件的耐候能力,同时根据加速寿命推算组件的理论寿命周期。实验表明在层压工艺及原辅材料相同的条件下改变使用不同型号封装材料即EVA,组件功率衰减会出现差异性,同时根据实验结果还表明材料间的搭配也是决定可靠性是否通过的主要原因。
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