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作者为改善普通Ｘ－射线荧光光谱仪的分辨率和谱线的低能拖尾现象，于ＰＷ１４０４谱仪上加了可拆卸的限制垂直发散准直器（６．５×２０×５０ｍｍ，片间距０．６５ｍｍ）。实验结果表明，加了限制垂直发散准直器后，谱仪相对分辨率提高１０％，谱仪非对称因子由１．４－１．５改善为１．０－１．１８。为普通Ｘ－射线谱仪用于化学态分析提供了更为有利的条件。