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目的：研究5,7-双羟色胺（5,7-DHT）损毁大鼠中缝背核后内侧前额叶皮层（mPFC）中锥体神经元放电频率和放电形式的变化。方法：应用在体细胞外电生理学记录的方法,观察5,7-双羟色胺损毁大鼠中缝背核后,mPFC锥体神经元自发电活动的变化。结果：实验组大鼠锥体神经元的放电频率显著升高（P〈0.001）,使其从0.52±0.10H z升至1.25±0.20H z,放电形式趋向爆发（P〈0.001）。结论：脑内5-HT递质系统对内侧前额叶皮层锥体神经元的电活动有显著影响。