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针对CMOS/纳米混合电路(CMOL)中器件高缺陷率的问题,提出一种基于无缺陷单元区域提取的缺陷无意识容错映射方法.首先采用最小逻辑单元和纳米二极管协同检测加速提取出CMOL阵列中无缺陷单元所在区域;然后采用进化算法进行无缺陷区域的CMOL单元映射,通过设计选择策略、适值函数以及精英策略模拟生物进化的过程对解进行全局搜索改进解的质量.实验结果表明,该方法在求解速度和线长上有较大的提升.