【摘 要】
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给出了检测环节前后电路板板级故障谱及成品率的计算方法,使检测环节的选择和检测效果的考查有了科学的依据;将不同检测方法按检测流程分类,建立了各自的费用模型.根据新的电
【机 构】
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给出了检测环节前后电路板板级故障谱及成品率的计算方法,使检测环节的选择和检测效果的考查有了科学的依据;将不同检测方法按检测流程分类,建立了各自的费用模型.根据新的电路板检测经济模型及测试策略优化算法,可制定出最佳的检测方案,使总检测费用最小.最后,用实例说明了模型与算法的有效性
The calculation method of the fault spectrum and the yield of the circuit board before and after the test is given, which provides a scientific basis for the selection of the test link and the examination of the test results. The different test methods are classified according to the test process, and their respective cost models According to the new economic model of circuit board testing and the optimization algorithm of test strategy, the best test scheme can be worked out to minimize the total test cost.Finally, the effectiveness of the model and algorithm is demonstrated by an example
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