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在ATE测试中,芯片上升时间的传统测量方法,具有测试步骤较多、耗时比较长的特点,会给芯片的量产增加很多测试成本。基于UltraFlex测试机,以芯片管脚信号上升时间为研究对象,实践传统测试方式,并探索一种能够快速且满足测试精度要求的高效测量方法。这种方法的思路,可以供其他的芯片时间参数测试参考。