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采用传统的熔融-淬冷法制备了系列Ge20Te50-xIx（x=2，4，6，8mol％）玻璃样品．利用X射线衍射仪、扫描电子显微镜、差热分析仪等设备系统测试了玻璃结构和物化性质，分析了卤素I对玻璃形成及稳定性的影响；利用分光光度计、红外光谱仪等研究、了玻璃光谱性质，分析了I对玻璃的短波吸收及红外透过光谱的影响；利用Tauc方程计算了样品的直接和间接光学带隙．实验结果表明：I的引入，降低了Te的金属性，提高了Te基硫系玻璃的成玻能力；随着卤素I含量的增加，玻璃的密度减小，摩尔体积增大，且短波吸收截止边发生红移