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InfluenceofTriangleStructureDefectontheCarrierLifetimeofthe4H-SiCUltra-ThickEpilayer

来源 :null | 被引量 : 0次 | 上传用户：changkaiaini

【作 者】

：

钮应喜 汤晓燕 贾仁需 桑玲 胡继超 杨霏 吴军民 潘艳 张玉明 

【出 处】

：

null

【发表日期】

：

2018年07期

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