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采用熔炼铸造法制备添加不同含量Ce的AP65镁合金。采用X射线衍射（XRD）、扫描电镜（SEM）和电子探针（EPMA）研究Ce对AP65镁合金显微组织的影响。采用恒电流放电、动电位极化扫描、化学浸泡研究不同Ce含量AP65镁合金的腐蚀电化学行为。结果表明：随Ce含量增加,合金中依次出现棒状或簇状的Al4Ce相和块状的Al2Ce相。Ce的添加导致AP65镁合金的电化学性能明显提高,添加0.6%（质量分数）的Ce使AP65镁合金的平均放电电位从-1.648 V（vs SCE）负移到-1.756 V（vs SC