论文部分内容阅读
【目的】分析不同结构作参照系进行重叠法X线头影测量对测量结果产生的影响。【方法】20例Ⅱ类Ⅰ分类拔牙矫正患者治疗前后的X线头影侧位片，分别以①SN及S点，②Bohon平面和R点，③BaN及Pt点，④BaN及N点为参照系进行重叠分析颌面部结构的位置变化，观察不同参照系对同一患者测量结果的影响。【结果】4种参照系对同一患者测量得出结果各不相同(P<0．05)，若以差别≥1mm定为有临床意义，大部分结果差别仍有临床意义。【结论】用重叠法作头影测量分析颌面部变化时，应考虑不同参照系对结果的影响。