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《红外技术》第26卷(2004年)总目录索引
【出 处】
:
红外技术
【发表日期】
:
2004年6期
其他文献
提出了利用近红外激光散射光强分布分析来检测半导体材料内部微体缺陷的检测方法.在研究广义洛仑兹-米氏理论(Generalized Lorenz-Mie Theory)的基础上,通过对理论上散射光强