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由于压电陶瓷机构的非线性及系统温度漂移等因素使AFM探针难以精确定位到被操作物体，从而导致跳针或滑落现象，阻碍了AFM纳米操作的发展．为了解决该问题，提出了基于局部扫描的实时反馈纳米操作系统．系统以样品表面的纳米颗粒作为路标并对其进行持续观测，解决了系统温漂引起的探针定位误差问题，提高了探针的定位精度；在纳米操作过程中采用局部扫描策略，通过对操作后的结果进行快速扫描，实现了实时反馈纳米操作系统．实验结果验证了该纳米操作实时反馈系统在大温漂条件下操作的有效性．