用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数

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描述了用超短光脉冲测量微波器件S参数的基本原理和建立的测量系统。用该系统测量了频率高达36GHz器件的S参数,并同网络分析仪的测量结果进行了比较,一致性很好。该系统测量频率可达100GHz。 Describes the basic principle of measuring the S-parameters of microwave devices with ultra-short optical pulses and the established measurement system. Using this system, S-parameters of devices up to 36 GHz were measured and compared with those of the network analyzer. The agreement was very good. The system measurement frequency up to 100GHz.
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