论文部分内容阅读
介绍了一种对厚度很小的平行玻璃平板厚度的高精度测量方法。通过激光束垂直照射被测物,用光谱仪接受并分析反射光各波长的能量。以此数据分析出介质对不同波长光线的反射率,找出反射率极大的波长。使用这些具有反射极大的波长进行计算,就得到介质的厚度值。该测量方案结构简单,测量精度较高。
基于光谱能量分析的介质厚度测量方法
【摘 要】
：
介绍了一种对厚度很小的平行玻璃平板厚度的高精度测量方法。通过激光束垂直照射被测物,用光谱仪接受并分析反射光各波长的能量。以此数据分析出介质对不同波长光线的反射率,
【机 构】
：
西安工业大学光电工程学院
【出 处】
：
光学仪器
【发表日期】
：
2008年1期
其他文献
为了为超光谱成像仪光谱温度漂移修正提供依据和指导其光机结构设计，介绍了光谱成像的基本原理，研究了温度变化对超光谱成像仪光机结构尺寸稳定性的影响，通过面型拟合，将MSCNastr
提出并研究了一种新的、可用TM导模激励的对称型表面等离子体共振结构，共振条件通过调节两金属薄膜之间的间隙来满足，提高了应用范围和使用灵活性。实验采用0．004AgNO3--0．996NaN
微光学陀螺仪（MOG）研制中的最关键一项技术是制备低损耗螺线波导并用面耦合技术做成互易结构。通过理论分析提出MOG单模波导设计方案，用微偏移、外侧刻槽、波导透镜等结构设计减
为克服利用密度计测量印刷品网点面积的传统方法的不足之处，现设计了一个基于CMOS图像传感器和数字图像处理技术的网点测量系统。首先利用CMOS图像传感器采集印品的显微数字图
温度对LD（1aserdiode）发光功率的稳定性影响非常明显，而在LD的应用中需要其输出很稳定的光功率，所以对其工作温度的控制具有重要的现实意义。现采用模糊自整定PID（proportion inte
暗影是光纤面板在生产过程中产生的一种疵病,根据光纤面板暗影透过率的梯度变化特征,讨论其对应图像的灰度变化特性,提出了利用经典边缘算子融合数学形态学检测光纤面板暗影