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介绍一种前端读出专用集成电路（ASIC，Application—Specific Integrated Circuit）芯片性能测试系统的电路设计与实现。该ASIC芯片可用于构成硅微条探测器、硅条、Si（Li）和CsI探测器的前端读出电子学系统。本文详细描述了测试系统的构成，主要电路设计，系统应用以及部分测试结果，并简要介绍了被测ASIC芯片的电路结构。