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随着电路规模的不断扩大,将测试技术向高层次推进,提高测试的效率成为数字系统测试的必然要求。本文研究了基于ASM图的时序电路测试向量生成方法。该方法根据电路的功能描述构造ASM图,然后将其转换为状态图,利用有限状态机的有关知识构造测试向量,最后通过软件仿真和实测验证说明测试向量的正确性。该方法生成的测试向量能体现系统的功能,且具有较高的故障覆盖率。