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质子非卢瑟福背散射测量气溶胶样品中氢、碳、氮和氧的含量

来源 :原子能科学技术 | 被引量 : 2次 | 上传用户：aierlansi

【摘要】

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气溶胶样品中Z>12以上元素含量的质子荧光(PIXE)分析是北京师范大学GIC4117串列加速器的主要应用领域之一。为弥补PIXE无法分析H、C、N和O等轻元素之不足,在PIXE靶室160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子非卢瑟福背散射分析(PNBS)方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行测量。测量得到的气溶胶样品中H和Si元素含量与质子前角散射(PESA)和PIXE的分析

【作者】

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王广甫鲁永芳朱光华

【机构】

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北京师范大学分析测试中心,北京师范大学低能物理研究院

【出处】

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原子能科学技术

【发表日期】

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2007年05期

【关键词】

：

质子非卢瑟福背散射气溶胶 H C N和O含量 proton non-Rutherford backscattering aerosol H C N

【基金项目】

：

国家自然科学基金资助项目（10275006）：

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气溶胶样品中Z>12以上元素含量的质子荧光(PIXE)分析是北京师范大学GIC4117串列加速器的主要应用领域之一。为弥补PIXE无法分析H、C、N和O等轻元素之不足,在PIXE靶室160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子非卢瑟福背散射分析(PNBS)方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行测量。测量得到的气溶胶样品中H和Si元素含量与质子前角散射(PESA)和PIXE的分析结果相近,表明PNBS可用于核孔膜采集的气溶胶样品的分析。

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