论文部分内容阅读
为适应新型合金材料（V—Ta合金）研制的需要，建立了甩能量色散x射线荧光光谱（EDXRF）法测定V—Ta合金中Ta含量的分析方法。该方法将溶鳃的V—Ta合金切屑样制成滤纸片试样，用能量色散x射线荧光光谱仪测定其Ta含量。该方法简便、快速，测定Ta含量在25％。加％范围内的样品时，其测量结果的相对标准偏差（n=6）不大于1％。