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基于两步退火法提升Al/n~+Ge欧姆接触及Gen~+/p结二极管性能

来源 :物理学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：kaishizai2009

【作 者】

：

王尘 许怡红 李成 林海军 赵铭杰

【出 处】

：

物理学报

【发表日期】

：

2019年08期

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