A new technology of lightning location is described, which is based on detecting the state of polarization (SOP) fluctuation of the laser light in the optic ground wire (OPGW). Compared with the conventional lightning location method, the new method is mo
A rotating neodymium-doped yttrium aluminum garnet (Nd:YAG) disk laser resonator for efficiently generating vector beams with azimuthal and radial polarization is demonstrated. In the study, the laser crystal rotary for thermal alleviation and polarizatio
本文采用分子束和改装过的质谱装置,进行了氯化氙准分子激光诱导的氨分子紫外光电离的研究。我们不仅在(m/e)=16,17处分别观察到NH_2~ 和NH_3~ 离子峰,而且还在(m/e)=18处观察到NH_4~ 离子峰。为搞清各种离子特别是NH_4~ 离子的产生机理,测量了各种离子产率与样品压强和激光功率的依赖关系。
本文研究了指数型光脉冲上升沿对阈上离化的影响.结果表明,在essentral states模型的基础上计及光脉冲中光强的时间变化,即可对阈上离化中各连续态粒子数分布及峰开关效应的时间发展作合理的描述.
在短波红外成像光谱技术的应用背景下,对HgCdTe短波红外焦平面探测器的校正技术进行研究,包括坏像元校正和非均匀性校正,并提出先进行坏像元校正后进行非均匀性校正的探测器校正原则;在标准辐射源下,对正常像元的输出值进行正态分布拟合,并通过3σ准则设定正常像元输出值阈值的方法,确定探测器中坏像元的数量与位置,然后根据短波红外成像光谱技术的应用要求,对坏像元进行光谱二邻域均值替换;坏像元校正完成后,再采用运算量小、实时性强的两点法对探测器进行非均匀性校正。综合校正结果表明:探测
三角测量法是一种位移测量方法, 其测量精度不但受到传感器本身因素如光源、探测器、机械结构特性等因素的影响, 还受到被测表面特性如色泽、材料、粗糙度、倾斜度以及外界环境的影响。国内外的一些学者提出了许多提高传感器测量精度的方法, 但这些研究都是针对某一特性表面进行的, 没有涉及到对不同表面的测量时存在的问题。利用随机行走理论对物体表面的散射场进行了分析, 给出了不同粗糙度表面下弱散射光强与散射角及入射角的关系。由于设计制造的传感器量程范围内接收散射光的角度在15°至25°内变化, 因此取20°作为散射角角度
利用电磁理论和传输矩阵法仿真得到了在0.3~6.935GHz微波波段具有负折射率的左手材料,并分别对右手材料和左手材料构成的光子晶体带隙特点进行了分析.结果表明:右手材料光子晶体结构的带隙对周期数变化不敏感,而对层厚度比、入射角度变化敏感;左手材料光子晶体带隙随层厚度比的增大,带隙位置出现蓝移,随着入射角度的增大,TM波主带隙的上带边会出现红移,而TE波带隙特性对入射角度变化不敏感.研究结果对微波技术中全方位反射器等器件的设计有一定的参考意义.
激光感应的荧光的肘间变化过程与发射波长的关系,似乎构成一种新的光谱信号,由于它的测量比荧光振幅测量更为可靠,故荧光衰变在远程传感的应用上,可提供更为精确的分辨能力,甚至可在光谱分析方面,开辟一个新的领域。为了改进激光荧光传感器的效能,研究 了荧光衰变光谱。该仪器可能的应用包括:油温的鉴定、海藻的分布探查,以及水的温度、性质、运动的监测。
对李奥(Lyot)双折射滤光器的出射振幅进行傅里叶分析,可看出博里叶系数都等于1/2~N,N是滤光器的级数.我们找到一种等傅里叶系数双折射滤光器,它由两个偏振片之间放置任意数m的等厚双折射晶片组成,选择晶片之间的角差分布,使其出射光傅里叶系数相等为1/(m 1),当两偏振片平行,晶片角递增时,其傅里叶系数全等。程差为波长的整数倍时,透过极大。当两偏振片相互垂直,晶片角正负相间时,傅里叶系数仅数值相等,而符号正负相间,程差为半波长的整数倍时,透过极大,只需以(m 1)替换2~N代入L滤光器有关性能的公式中,