A noise immunity improved level shift structure for a 600 V HVIC

来源 :Journal of Semiconductors | 被引量 : 0次 | 上传用户:chubiao5201314
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<正>A novel level shift circuit featuring with high dV/dt noise immunity and improved negative V_S capacity is proposed in this paper.Compared with the conventional structure,the proposed circuit adopting two cross-coupled PMOS transistors realizes t
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