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建立了应用多接收电感耦合等离子体质谱仪(MC-ICP-MS)测定稳定硅同位素比值的仪器分析方法。在干等离子体、中分辨率条件下,硅同位素高质量端受到C、N、O、H等元素形成的多原子离子的干扰。样品气流量对Si的灵敏度稳定性有重要影响,并且样品气流量增加会导致14N16O的强度增大。中分辨率条件下,低质量数端δ29Si和δ30Si在约9 milli-amu的质量范围内保持稳定,精度优于0.04‰(1σ)。采用"标准-样品"交叉法正校质量歧视时,为避免浓度效应对硅同位素测试的影响,要求标准和样品之间硅浓度