Zn、Cu共掺杂TiO2∶SiO2薄膜材料的光学性能研究

来源 :发光学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:tianming2001
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用溶胶-凝胶法制得Zn、Cu共掺杂的TiO2∶SiO2凝胶,旋转法于玻璃基底涂膜,制得Zn、Cu共掺杂的TiO2∶SiO2薄膜,探讨了煅烧温度、煅烧时间及掺杂比例对其结构、形貌和性能的影响。采用XRD、FESEM、FTIR等测试技术对薄膜进行表征,并考察了其对甲基橙的光催化降解性能。XRD测试结果显示:薄膜样品的晶型为锐钛矿型,结晶良好。SEM谱图显示:薄膜微粒粒径小,分布均匀,表面平整、致密且无明显裂痕;紫外-可见光谱(UV-Vis)表明:Zn、Cu共掺杂的TiO2∶SiO2薄膜在紫外区和可见光区的吸光
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