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简要介绍了加速寿命试验的一般流程及其在单机级航天电子产品中应用的局限：针对航天电子产品长寿命、高可靠、小子样的特点，分析了应用失效率比值法、加速退化法、转化法进行单机级加速寿命试验设计和数据预估的优缺点；研究提出了基于激活能预估的新方法，为星上单机级长寿命电子产品加速寿命试验设计与评价提供了一种新途径．并结合实例验证了该方法的工程适用性。研究结果具有一定的理论参考和工程应用价值。