美国研制出采用微测辐射热计的红外斯托克斯成像偏振仪

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在2009年8月于美国加利福尼亚州圣地亚哥召开的“红外系统与光电子技术”SPIE专题会议上,美国亚利桑那大学Michael W.Kudenov等研究人员介绍了他们最新研制的一种基于非致冷微测辐射热计探测器的双相机斯托克斯成像偏振仪。该成像偏振仪工作于7.5μm至13岬波长范围,由两个光学分系统组成,
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