论文部分内容阅读
本文阐述了测试和可测试性设计的重要性,并对故障模型进行了分析,着重强调了内建自测试技术的组成方法和设计中需要考虑的问题,同时也指出了可测试性设计中进行功耗优化的发展方向。
可测试性设计技术
【摘 要】
：
本文阐述了测试和可测试性设计的重要性,并对故障模型进行了分析,着重强调了内建自测试技术的组成方法和设计中需要考虑的问题,同时也指出了可测试性设计中进行功耗优化的发
【机 构】
：
中国科学院计算技术研究所
【出 处】
：
中国集成电路
【发表日期】
：
2002年8期
其他文献