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依据统计过程控制(SPC)控制图原理,运用X軍-R(均值-极差控制图)和X-Rs(单值-移动极差控制图)对某批次生产的陀螺组合零偏数据的一致性和稳定性进行分析,判读产品研制过程质量受控情况。通过案例分析,SPC控制图有助于小批量航天产品研制过程中的质量把控。
小批量航天产品研制过程中SPC控制图的应用
【摘 要】
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依据统计过程控制(SPC)控制图原理,运用X軍-R(均值-极差控制图)和X-Rs(单值-移动极差控制图)对某批次生产的陀螺组合零偏数据的一致性和稳定性进行分析,判读产品研制过程质量
【机 构】
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上海交通大学,上海航天控制技术研究所
【出 处】
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科技创新与应用
【发表日期】
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2019年2期
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