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内建自测试（BIST）是可测性设计中常用的方法，其中的测试电路部分要占用一定的芯片面积。提出并实现了一种基于电路自反馈的测试向量产生算法，通过将被测电路中的一些内部节点反馈连接到被测电路的输入端，由电路自己施加测试向量进行测试。该方法可以减少BIST的面积开销，实现全速测试，同时还能保证较高的故障覆盖率。