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采用有限元方法研究轻掺杂源漏结构对异质栅MOSFET的性能影响(英文)

来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户：kelly_0810

【作 者】

：

王伟  张露  王雪莹  朱畅如  张婷  李娜  杨晓  岳工 

【出 处】

：

固体电子学研究与进展

【发表日期】

：

2014年08期

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