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本文系统描述了脑皮层厚度测量的后处理步骤以及相应的统计分析方法,并就该方法在脑发育和相关疾病中的具体应用进行了深入的讨论.最后,指出脑皮层厚度测量与分析方法的研究意义与潜在局限性.
脑皮层厚度分析方法及其应用
【摘 要】
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本文系统描述了脑皮层厚度测量的后处理步骤以及相应的统计分析方法,并就该方法在脑发育和相关疾病中的具体应用进行了深入的讨论.最后,指出脑皮层厚度测量与分析方法的研究
【机 构】
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中国科学院自动化研究所复杂系统与智能科学重点实验室,北京,100190中国科学院研究生院,北京,100049;南京军区南京总医院医学影像科,江苏,南京,210002;
【出 处】
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中国医学影像技术
【发表日期】
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2004年期
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