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介绍了在外壳检验中，应用X射线荧光光谱法（XRF），对外壳的镀涂层厚度进行测试；探讨了金属外壳镀镍涂层厚度的测试方法；论述了应用X射线荧光光谱法正确测量外壳镀层的方法。
XRF在外壳镀层厚度测试中的正确应用
【摘 要】
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介绍了在外壳检验中，应用X射线荧光光谱法（XRF），对外壳的镀涂层厚度进行测试；探讨了金属外壳镀镍涂层厚度的测试方法；论述了应用X射线荧光光谱法正确测量外壳镀层的方法。
【机 构】
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中国电子科技集团公司第二十四研究所
【出 处】
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微电子学
【发表日期】
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2006年4期
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