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在当前SOC验证领域中，如何提高验证平台的可靠性和效率是一个迫切需要解决的问题。传统的向量产生方法存在着效率低、覆盖率不高等缺陷。本文介绍了一种基于遗传算法的随机向量产生器。它结合覆盖率驱动技术，能够自动搜索适合于待测模块的测试激励。与传统的向量生成方法相比，基于遗传算法的产生器极大地提高了验证效率，并且减轻了验证工程师的工作，缩短了芯片上市的时间。