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本文首次报道SiH_4在紫外区多光子电离的分质量光谱。没有检测到SiH_4~+;SiH-2~+和SiH_3~+是主要产物、SiH~+很少。与同步辐射的实验结果相比,SiH_2~+/SiH_3~+的比例相近,但Si~+明显增强。在358-367nm,各碎片离子光谱有大体一致的形状;在377-393nm,Si~+光谱中有多出来的谱带。分析表明较多Si~+可能来自SiH_n~+的后续解离过程。