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文章介绍了一种采用基本逻辑门单元的完全测试矢量集生成测试矢量的方法,该方法可以将搜索空间限制在2(n+1)种组合内.它采用故障支配和故障等效的故障传播、回退等技术,建立了一套从局部到全局的测试生成新方法.同时,利用基本门单元完全测试矢量的规律性,可以实现最小的内存容量要求.在一些基准电路的应用实例中,得到了满意的结果.