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本文用MEDICI二维模拟软件对MOSFET的单粒子翻转现象进行了计算.力图从理论上,建立分析器件SEU(Single Event Upset)的可靠手段.通过输入不同粒子的LET(Line Energy Transmission)值,得到了某一结构器件的翻转概率与LET值的关系曲线.分析了不同结构参数,如结深、外延层掺杂浓度、结掺杂浓度的变化对SEU的影响.模拟得到结果与电荷漏斗模型相吻合.表明了所1立的物理模型的正确性.同时通过本文的工作也反映了模拟过程存在某些不足,仍有许多方面有待进一步研究.